簡要描述：性能強(qiáng)大的無源光器件測試平臺，適用于測試WDM器件和光子集成電路
產(chǎn)品型號： CTP10
所屬分類：光無源器件
更新時(shí)間：2024-05-06
高效地測試全天候運(yùn)行的無源光器件。以非常高的動態(tài)范圍、速度與分辨率測量插損
（IL）、回?fù)p（RL）或偏振相關(guān)損耗（PDL）
迅速對IL、RL或PDL進(jìn)行波長掃描測量
采用*電子技術(shù)，只需一次掃描便可以實(shí)現(xiàn)整個(gè)動態(tài)范圍內(nèi)的IL鑒定，是測試頻譜對比度高的器件的理想工具
配備強(qiáng)大、直觀的圖形用戶界面（GUI），便于配置測試和分析測量結(jié)果
支持全波段IL、RL和PDL測量，覆蓋從1240 nm到1680 nm的波長
提供激光器共享功能，在多8個(gè)測試臺間共享一個(gè)或多個(gè)激光器
CTP10是一種模塊化測量平臺，可高效地測試全天候運(yùn)行的無源器件。該平臺可直接控制一臺或多臺T100S-HP激光器，在幾秒內(nèi)實(shí)現(xiàn)高分辨率頻譜鑒定。一臺CTP10可為IL、RL或PDL測量提供波長掃描、數(shù)據(jù)收集與處理、以及曲線顯示與分析功能，從而成為一款非常誘人、易于使用的無源器件測試解決方案。它能夠以高達(dá)80 dB的動態(tài)范圍、非常高的速度與分辨率，通過一次掃描便完成插損測量。該平臺可連接多達(dá)50個(gè)檢測器，成為測試DWDM網(wǎng)中所用大端口數(shù)器件以及光子集成電（PIC）
的理想儀表。它運(yùn)行功能強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理電子技術(shù)，從而幾乎消除了由數(shù)據(jù)傳輸而導(dǎo)致的任何停機(jī)時(shí)間。它還配備一個(gè)大容量內(nèi)置硬盤，用于直接存儲數(shù)據(jù)和通過兼容SCPI的命令進(jìn)行全遠(yuǎn)程控制。
